Transmenu powered by JoomlArt.com - Mambo Joomla Professional Templates Club

• Главная
• О предприятии
  • О предприятии
  • Наша история
  • Политика в области качества
  • Руководящий состав
    • ВИСКУШЕНКО АЛЕКСАНДР АДАМОВИЧ
    • Ародь Константин Эдуардович
    • ПЛЕБАНОВИЧ ВЛАДИМИР ИВАНОВИЧ
    • Матюшков Владимир Егорович
    • АВАКОВ СЕРГЕЙ МИРЗОЕВИЧ
  • Контакты
• Продукция
  • Оборудование для формирования и контроля топологических структур на фотошаблонах
  • Оборудование для формирования и контроля топологических структур на полупроводниковых пластинах
  • Продукция оптического и механического производств
  • Испытательное оборудование
• Услуги
  • Разработка и изготовление оптико-механического оборудования
  • Изготовление оптических компонентов
  • Изготовление прессформ
  • Изготовление фотошаблонов
  • Услуги испытательного центра
• Новости и события
  • С Днем машиностроителя!
  • ОАО «КБТЭМ-ОМО» на конференции «Развитие радиоэлектроники – основа цифровой экономики России»
  • ОАО «КБТЭМ-ОМО» и АО «НПП «Исток» им. Шокина» подписали договор
  • Первый день на выставке SEMICON West 2017
  • SEMICON WEST 2016, 11-13 июля
  • С 4 июля 2017 года в ОАО «КБТЭМ-ОМО» осуществлен переход на международный формат банковского счета
  • 33-я европейская техническая конференция по фотошаблонам и фотолитографии EMLC 2017
  • Поздравление с Днем Независимости Республики Беларусь!
  • Комплект оборудования ОАО «КБТЭМ-ОМО» для проекционной субмикронной литографии
  • eMerge Americas 2017, 12-13 июня
  • SEMIEXPO RUSSIA 2017
  • Приглашаем на выставку-конференцию «eMerge Americas», 12-13 июня 2017
  • SEMIEXPO RUSSIA 2017, 7-8 июня
  • ОАО «КБТЭМ-ОМО» на Белорусско-Китайском научно-техническом форуме 2017
  • Поздравление директора ОАО «КБТЭМ-ОМО» С.М. Авакова с Днем Победы
  • Приглашаем на ЭкспоЭлектроника, 25-27 апреля 2017
  • ОАО «КБТЭМ-ОМО» на выставке научных и научно-технических достижений
  • Академик Г.Я. Красников посетил ОАО «КБТЭМ-ОМО»
  • Поздравление директора ОАО «КБТЭМ-ОМО» С.М. Авакова с 8 марта
  • Поздравление директора ОАО «КБТЭМ-ОМО» С.М. Авакова с 23 февраля
  • Кластер в сфере микро-, опто-, СВЧ-электроники и точного электронного машиностроения в Беларуси
  • Утвержден логотип Года науки
  • ОАО «КБТЭМ-ОМО» ПОЗДРАВЛЯЕТ АЗИАТСКИХ ПАРТНЕРОВ С ПРАЗДНИКОМ ВЕСНЫ И КИТАЙСКИМ НОВЫМ ГОДОМ!
  • Высший пилотаж
  • Поздравление директора ОАО «КБТЭМ-ОМО» С.М. Авакова с Новым годом и Рождеством
  • ОАО «КБТЭМ-ОМО» - 25 ЛЕТ
  • Деловой визит китайской делегации
  • ОАО «КБТЭМ-ОМО» НА ВЫСТАВКЕ БЕЛОРУССКО-ТУРЕЦКОГО БИЗНЕС-ФОРУМА
  • БЕЛОРУССКАЯ ПРОДУКЦИЯ ТОЧНОГО МАШИНОСТРОЕНИЯ НЕ УСТУПАЕТ МИРОВЫМ АНАЛОГАМ
  • ПРОДЛЕНА АККРЕДИТАЦИЯ ОАО «КБТЭМ-ОМО» В КАЧЕСТВЕ НАУЧНОЙ ОРГАНИЗАЦИИ
  • Первый день на выставке SEMICON Europa 2016
  • SEMICON Europa 2016, 25-27 октября
  • С деловым визитом в Тайване представители ОАО «КБТЭМ-ОМО» посетили компании PDMC и TCE
  • Представители ОАО «КБТЭМ-ОМО» с деловым визитом в Тайване посетили фирму MIC
  • Продвижение оборудования ОАО «КБТЭМ-ОМО» в странах Северной и Южной Америки
  • ОАО «КБТЭМ-ОМО» на 5-ой выставке ЭКСПО «Китай-Евразия»
  • Представители SIOM посетили ОАО «КБТЭМ-ОМО»
  • С Днем машиностроителя!
  • С чего начинается микросхема
  • Представители компании CETC на ОАО «КБТЭМ-ОМО»
  • Представители компании Colandis GmbH посетили ОАО «КБТЭМ-ОМО»
  • Конференция по инвестиционному сотрудничеству «Китай (Шэньчжень) – Беларусь (Минск)»
  • Первый день на выставке SEMICON West 2016
  • С Днем Независимости Республики Беларусь!
  • Визит в ОАО «КБТЭМ-ОМО» делегации Министерства по науке и технике Китайской Народной Республики
  • Визит в ОАО «КБТЭМ-ОМО» делегации Шанхайской муниципальной комиссии по науке и технологии
  • SEMICON WEST 2016, 12-14 июля
  • SEMICON RUSSIA - 2016
  • SEMICON RUSSIA 2016, 8-9 июня
  • С праздником Великой Победы!
  • Состоялся семинар «КБТЭМ-ОМО – оборудование для микроэлектроники и сервис мирового уровня»
  • 21 апреля семинар «КБТЭМ-ОМО – оборудование для микроэлектроники и сервис мирового уровня»
  • Визит на Compugraphics International Ltd.
  • ЭкспоЭлектроника - 2016
  • ЭкспоЭлектроника, 15-17 марта 2016
  • ОАО «КБТЭМ-ОМО» поздравляет китайских партнеров с Праздником Весны!
  • С Новым годом и Рождеством!
  • Белорусско-китайский научно-технический форум 2015
  • XIV отраслевая научно-техническая конференция
  • Visit to NIISI RAN
  • Визит представителей дипмиссий на предприятие ОАО «КБТЭМ-ОМО»
  • ЭкспоЭлектроника, 24-26 марта 2015
  • Компенсация затрат на кредитование закупки продукции ОАО «КБТЭМ-ОМО»
  • XY международный научно-практический семинар
  • Приглашаем на выставку «ЭлектронТехЭкспо»
  • ВИЗИТ ПРЕДСТАВИТЕЛЕЙ ОАО "АВАНГАРД"
  • ОАО «КБТЭМ-ОМО» заключило соглашение о сотрудничестве с компанией GenISys
  • Визит специалистов ТУСУР
  • Выставка достижений молодежной науки
  • 2015 – ГОД МОЛОДЕЖИ В БЕЛАРУСИ
  • С Новым Годом!
  • Semicon Europa 2014
  • Визит Вице-Президента компании GenISys
  • Рабочий визит в Малайзию и Сингапур
  • Semicon Russia 2014
  • ЭкспоЭлектроника, 15 - 17 апреля 2014
  • Семинар ОАО «КБТЭМ-ОМО»
  • Интервью директора ОАО «КБТЭМ-ОМО» С.М. Авакова газете "Новости недели" (Израиль)
  • ОАО"КБТЭМ-ОМО"
  • Премьер-министр Республики Беларусь Мясникович М.В. посетил ГНПО"Планар"
  • Председатель Совета Республики Рубинов А.Н. посетил УП"КБТЭМ-ОМО"
  • ПОЗДРАВЛЯЕМ С МЕЖДУНАРОДНЫМ ЖЕНСКИМ ДНЕМ!!!
  • Аккредитация научной организации
• Научная деятельность
  • Наши публикации
  • Научные разработки
  • Государственные премии и награды
  • Ссылки
• Противодействие коррупции

Оборудование для формирования и контроля топологических структур на фотошаблонах

• Прецизионные генераторы изображений
  • ЭМ-5289Б Сканирующий лазерный генератор
  • ЭМ-5189-02 Сканирующий лазерный генератор
• Генераторы изображений для специальных приложений
  • ЭМ-5109 Лазерный генератор изображений широкого применения
  • ЭМ-5009М Генератор изображений для изготовления эмульсионных фотошаблонов
• Фотоповторители
  • ЭМ-5062М Фотоповторитель
• Установки автоматического контроля топологии фотошаблонов
  • ЭМ-6729 Установка автоматического контроля топологии фотошаблонов
  • ЭМ-6329Б и ЭМ-6329Р Установки автоматического контроля топологии фотошаблонов
  • ЭМ-6015М Установка автоматизированного контроля дефектности фотошаблонов
• Установки лазерного устранения дефектов фотошаблонов
  • ЭМ-5131 Установка лазерного устранения дефектов фотошаблонов
  • ЭМ-5001В Установка лазерного устранения дефектов фотошаблонов
• Установки контроля микроразмеров и координат топологии фотошаблонов
  • ЭМ-6239-01 Установка автоматизированного контроля микроразмеров
  • ЭМ-6209 Установка измерения координат топологии фотошаблонов

Оборудование для формирования и контроля топологических структур на полупроводниковых пластинах

• Оборудование для непосредственного генерирования изображений на полупроводниковые пластины
  • ЭМ-5289Б Сканирующий лазерный генератор изображений для формирования топологии на п/п подложках
  • ЭМ-5189-01 Сканирующий лазерный генератор изображений для формирования топологии на п/п подложках
• Оборудование для проекционного переноса изображений на полупроводниковые пластины
  • ЭМ-5084Б Автоматическая установка совмещения и экспонирования
• Оборудование контактного переноса изображений на подложки и для организации двусторонней литографии
  • ЭМ-5026АМ Установка совмещения и экспонирования
  • ЭМ-5096 Установка совмещения и экспонирования
  • ЭМ-5026М1 Установка совмещения и экспонирования
  • ЭМ-5026Б Установка двустороннего совмещения и экспонирования
  • ЭМ-5186 Установка формирования знаков совмещения на нижнюю сторону пластины
• Широкоформатные степперы
  • ЭМ-5434М Установка экспонирования для изготовления печатных плат высокой плотности соединений
  • ЭМ-5534 Бампинг-степпер
  • ЭМ-5634 CCD-степпер
• Оборудование для контроля полупроводниковых пластин
  • ЭМ-6419 Установка контроля отклонений от плоскостности полупроводниковых пластин
  • ЭМ-6429 Установка автоматического микроконтроля привносимых дефектов на пластинах с топологией
  • ЭМ-6529 Установка автоматического макроконтроля дефектов на пластинах с топологией
  • ЭМ-6479 Установка автоматического контроля привносимых дефектов
  • ЭМ-6015М Установка автоматизированного контроля дефектности
  • ЭМ-6239 Установка автоматизированного контроля микроразмеров

Продукция оптического и механического производств

• Изготовление оптических компонентов
  • Призмы
  • Плоскопараллельные детали
  • Клинья
  • Асферические детали
  • Зеркала
  • Светоделители
  • Просветляющие покрытия
  • Моллированные отражатели
  • Изделия, изготовленные методом фотолитографии
  • Вакуумные столики
  • Растровые компоненты
  • Сферические линзы
• Прессформы
• Линейные шаговые двигатели

• Home
• About
  • About
  • Our history
  • Policy in the field of quality
  • Management
    • Vladimir Plebanovich
    • Alexander Viskushenko
    • MATJUSHKOV VLADIMIR
    • Sergey Avakov
  • Contacts
• Production
  • Equipment for mask pattern generation and inspection
  • Equipment for wafer pattern generation and inspection
  • Optical and mechanical components
• Services
  • Development and manufacturing of the opto-mechanical equipment
  • Manufacturing of optical components
  • Manufacture of molds
  • Manufacturing of photo masks
  • Standards
  • Test center services
• News and events
  • CONTRACT SIGNING BETWEEN KBTEM-OMO JSC AND "RPC "ISTOK" NAMED AFTER SHOKIN" JSC
  • First day at SEMICON West 2017
  • SEMICON WEST 2017, July 11-13
  • Introducing IBAN bank account format starting from July 4, 2017
  • The 33rd EMLC European Mask and Lithography Conference
  • eMerge Americas 2017, June 12-13
  • Meet us at eMerge Americas 2017, June 12-13
  • SEMIEXPO RUSSIA 2017, June 7-8
  • ExpoElectronica 2017, April 25-27
  • KBTEM-OMO CONGRATULATES OUR PARTNERS THROUGHT THE WORLD WITH THE 2017 CHINESE NEW YEAR!
  • Christmas greeting
  • THE 25TH ANNIVERSARY OF KBTEM-OMO
  • KBTEM-OMO AT THE EXHIBITION OF THE BELARUSIAN-TURKISH BUSINESS FORUM
  • Visit of Chinese businessmen to KBTEM-OMO
  • BELARUSIAN PRODUCTS OF PRECISION ENGINEERING ARE NOT INFERIOR TO THE WORLD ANALOGUES
  • ACCREDITATION OF KBTEM-OMO AS THE SCIENTIFIC INSTITUTION WAS EXTENDED
  • FIRST DAY AT SEMICON EUROPA 2016
  • SEMICON EUROPA 2016, October 25-27
  • KBTEM-OMO representatives visited PDMC and TCE in Taiwan
  • KBTEM-OMO JSC representatives visited MIC in Taiwan
  • KBTEM-OMO tool promotion in North and South American countries
  • KBTEM-OMO at the 5th China-Eurasia Expo (Urumqi, China)
  • The representatives of SIOM visited KBTEM-OMO JSC
  • CETC representatives visit KBTEM-OMO JSC
  • Representatives of Colandis GmbH visited KBTEM-OMO JSC
  • An investment cooperation conference "China (Shenzhen) - Belarus (Minsk)"
  • First day at SEMICON West 2016
  • The visit of the delegation of the Ministry of Science and Technology of China (MOST)
  • The visit of the delegation of Shanghai Municipal Science and Technology Commission
  • SEMICON WEST 2016, July 12-14
  • SEMICON RUSSIA - 2016
  • SEMICON RUSSIA 2016, June 8-9
  • Visit to Compugraphics at Glenrothes
  • ExpoElectronica - 2016
  • ExpoElectronica, 15-17 March 2016
  • KBTEM-OMO JSC congratulates our partners throught the World with the 2016 Chinese Spring Festival!
  • Merry Christmas and Happy New Year!
  • Foreign ambassadors and diplomats visit KBTEM-OMO JSC for a company tour
  • KBTEM-OMO and GenISys Announce Cooperation
  • HAPPY NEW YEAR!
  • «KBTEM-OMO» JSC
  • KBTEM-OMO is officially acknowledged as Scientific Institution
• R&D activity
  • Our publications
    • LIST OF ARTICLES OF KBTEM-OMO EMPLOYEES
  • Scientific development
  • References
  • State Prizes and Awards
• Registration

Equipment for mask pattern generation and inspection

• Precision pattern generators
  • EМ-5289B Multichannel laser pattern generator
  • EМ-5189-01 Multichannel laser pattern generator
• Special application pattern generator
  • EМ-5109 Multi-purpose laser pattern generator
  • EM-5009М Laser pattern generator
• Photorepeaters
  • EМ-5062 Photorepeater
• Automatic mask inspection
  • EМ-6729 Automatic mask inspection system
  • EM-6329B and EM-6329R Automatic mask inspection systems
  • EМ-6029B Automatic mask inspection system
  • EМ-6015M Automated photomask inspection system
• Laser-based mask defect repair systems
  • EМ-5131 Laser-based mask defect repair system
  • EМ-5001В Laser-based mask defect repair system
• Systems for inspection of work masks
  • EМ-6239-01 Automated micro size inspection system
  • EМ-6209 Mask pattern coordinates measurement system

Equipment for wafer pattern generation and inspection

• Pattern generator for wafers
  • EM-5289B Multichannel laser pattern generator
  • EM-5189-02 Multichannel laser pattern generator
• Equipment for wafer projection imaging
  • EМ-5084B Wafer Stepper
• Tools for proximity exposure and double-side lithography
  • EМ-5026АМ Mask Aligner
  • EM-5096 Mask aligner
  • EМ-5026М1 Mask Aligner
  • EМ-5026B Double-Side Mask Aligner
  • EM-5186 Double-side alignment mark placement system
• Large-area steppers
  • EМ-5434M High density integration PCB stepper
  • EМ-5534 Bumping Stepper
  • EМ-5634 CCD Stepper
• Wafer inspection equipment
  • EМ-6419 Wafer flatness inspection system
  • EМ-6429 Automatic patterned wafer micro defect inspection system
  • EМ-6529 Automatic patterned wafer macro defect inspection system
  • EМ-6479 Automatic unpatterned wafer defect inspection system
  • EМ-6015M Automated wafer inspection system
  • EМ-6239 Automated micro size inspection system

Optical and mechanical components

• Making optical components
  • Photolithographed parts
  • Beam splitters
  • Mirrors
  • Antireflective coating
  • Vacuum chucks
  • Bent reflectors
  • Raster components
  • Plane-parallel parts
  • Wedges
  • Prisms
  • Aspherical components
  • Spherical components
• Molds
• Linear step motors reflectors