Transmenu powered by JoomlArt.com - Mambo Joomla Professional Templates Club

• ГЛАВНАЯ
• ПЛАНАР
  • Руководящий состав
    • АРОДЬ Константин Эдуардович
    • ПЛЕБАНОВИЧ ВЛАДИМИР ИВАНОВИЧ
    • САКУН Геннадий Владимирович
    • Шкуратова Наталья Аркадьевна
    • МОСКАЛЕНКО Андрей Валерьевич
    • АВАКОВ СЕРГЕЙ МИРЗОЕВИЧ
  • Политика в области качества
  • Противодействие коррупции
  • Кооперация
  • Закупки за счет собственных средств
• ПРОДУКЦИЯ
  • Оборудование для формирования и контроля топологических структур на фотошаблонах
  • Оборудование для формирования и контроля топологических структур на полупроводниковых пластинах
  • Оборудование для подготовки кристаллов к сборке
  • Сборочное оборудование
  • Микроскопы и инспекционные системы на их основе
  • Изделия медицинского назначения
  • Испытательное оборудование
  • Продукция оптического и механического производств
• УСЛУГИ
  • Изготовление оптических компонентов
  • Изготовление прессформ
  • Изделия, изготовленные методом фотолитографии
• НОВОСТИ И СОБЫТИЯ
  • Поздравляем с победой ОАО «Планар» в соревнованиях санитарных дружин
  • ОАО «Планар» на шествии поколений в День Победы
  • Поздравление генерального директора ОАО «Планар» С.М. Авакова с Днём Победы
  • Отраслевая группа «микроэлектроника» на базе ОАО «Планар»
  • EXPOELECTRONICA / ELECTRONTECHEXPO - 2022
  • Круглый стол по вопросам реализации совместных проектов по производству микроэлектроники в ЕАЭС
  • Поздравляем наших коллег с занесением на Доску почета
  • Обсуждение изменений Конституции Республики Беларусь
  • Всенародное обсуждение проекта изменений и дополнений Конституции Республики Беларусь
  • Обсуждение проекта Конституции Республики Беларусь
  • Поздравление генерального директора С.М. Авакова с Новым годом и Рождеством
  • SEMICON Europa 2021, 16-19 ноября
  • CHIPEXPO - 2021
  • Поздравление генерального директора ОАО «Планар» С.М. Авакова с Днём Великой Победы
  • EXPOELECTRONICA / ELECTRONTECHEXPO - 2021
  • "ЭлектронТехЭкспо-2021" ("Экспоэлектроника-2021")
  • Поздравление генерального директора С.М.Авакова с 8 Марта
  • Поздравляем с Рождеством Христовым!
  • Поздравление генерального директора С.М.Авакова с Новым Годом
  • Поздравляем с Рождеством!
  • С Днем Машиностроителя!
  • Приглашаем на онлайн-выставку ChipEXPO-2020, 15-17 сентября 2020
  • Поздравление генерального директора ОАО «Планар» С.М. Авакова с Днём Победы
  • Поздравление генерального директора ОАО «Планар» С.М. Авакова с 8 марта
  • Поздравление генерального директора ОАО «Планар» С.М. Авакова с 23 февраля
  • 03 ФЕВРАЛЯ 2020Г. РЕОРГАНИЗАЦИЯ ОАО «ПЛАНАР»
  • Поздравление генерального директора С.М.Авакова с Новым годом и Рождеством
  • ОАО «КБТЭМ-ОМО» принимает участие в XX Международной конференции по физике полупроводников в Индии
  • ОАО «КБТЭМ-ОМО» на SEMICON Europa 2019
  • ПОЗДРАВЛЯЕМ С ДНЕМ МАШИНОСТРОИТЕЛЯ!
  • CHIPEXPO-2019, 16-18 ОКТЯБРЯ
  • SEMICON WEST 2019, 9-11 ИЮЛЯ
  • Поздравление директора ОАО «КБТЭМ-ОМО» С.М. Авакова с Днем Победы
  • Приглашаем на SEMIEXPO RUSSIA 2019, 14-15 мая
  • ExpoElectronica / ElectronTechExpo - 2019
  • Поздравление директора ОАО "КБТЭМ-ОМО" С.М. Авакова с 8 марта
  • Поздравление директора ОАО «КБТЭМ-ОМО» С.М. Авакова с 23 февраля
  • Приглашаем на ЭкспоЭлектроника, 15-17 апреля 2019
  • SEMICON CHINA 2019, 20-22 марта
• КОНТАКТЫ

Оборудование для формирования и контроля топологических структур на фотошаблонах

• Прецизионные генераторы изображений
  • ЭМ-5489 Многоканальный лазерный генератор изображений
  • ЭМ-5589 Многоканальный лазерный генератор изображений на базе твердотельного лазера
• Генераторы изображений для специальных приложений
  • ЭМ-5209 Лазерная установка многоцелевого назначения для формирования микроизображений
• Фотоповторители
  • ЭМ-5162 Фотоповторитель
• Установки автоматического контроля топологии фотошаблонов
  • ЭМ-6929 Установка контроля дефектности и оценки интегральных характеристик топологии фотошаблонов
  • ЭМ-6729Б и ЭМ-6729-0,25 Установки автоматического контроля топологии фотошаблонов
  • ЭМ-6015М1 Автоматизированная установка контроля микроизображений
• Установки лазерного устранения дефектов фотошаблонов
  • ЭМ-5231 Широкоформатная лазерная установка ремонта фотошаблонов
  • ЭМ-5171 Установка коррекции микроструктур фазосдвигающих фотошаблонов
  • ЭМ-5131 Установка лазерного устранения дефектов фотошаблонов
• Установки контроля микроразмеров и координат топологии фотошаблонов
  • ЭМ-6339 Установка автоматизированного контроля микроразмеров
  • ЭМ-6209 Установка измерения координат топологии и контроля совмещаемости фотошаблонов
• Лазерная установка автоматического контроля неплоскостности заготовок фотошаблонов
• Контейнеры для хранения фотошаблонов
  • Контейнер для хранения фотошаблонов 127х127, 102х102
  • Контейнер для временного хранения промежуточных фотооригиналов

Оборудование для формирования и контроля топологических структур на полупроводниковых пластинах

• Оборудование для непосредственного генерирования изображений на полупроводниковые пластины
  • ЭМ-5489 Многоканальный лазерный генератор изображений
  • ЭМ-5589 Многоканальный лазерный генератор изображений на базе твердотельного лазера
• Оборудование для проекционного переноса изображений на полупроводниковые пластины
  • ЭМ-5186 Установка формирования знаков совмещения на нижнюю сторону пластин
  • ЭМ-5084БM Автоматическая установка совмещения и экспонирования
  • ЭМ-5784 Автоматическая установка совмещения и экспонирования
• Оборудование контактного переноса изображений на подложки и для организации двусторонней литографии
  • ЭМ-5126 Установка совмещения и экспонирования
  • ЭМ-5106 Установка совмещения и экспонирования
  • ЭМ-5026АМ Установка совмещения и экспонирования
  • ЭМ-5026М1 Установка совмещения и экспонирования
  • ЭМ-5096 Установка совмещения и экспонирования
  • ЭМ-5026B Установка совмещения и экспонирования
• Широкоформатные степперы
  • ЭМ-5434М Установка экспонирования для изготовления печатных плат высокой плотности соединений
  • ЭМ-5634 CCD-степпер
• Оборудование для контроля полупроводниковых пластин
  • ЭМ-6022 Установка автоматической спектральной эллипсометрии
  • ЭМ-6419 Установка контроля отклонений от плоскостности полупроводниковых пластин
  • ЭМ-6429 Установка автоматического микроконтроля
  • ЭМ-6439 Установка контроля размеров субмикронных структур
  • ЭМ-6129 Установка автоматического контроля привносимых дефектов
  • ЭМ-6015М1 Автоматизированная установка контроля микроизображений
  • ЭМ-6479М Установка автоматического контроля привносимых дефектов
• Контейнеры для хранения фотошаблонов
  • Контейнер для хранения фотошаблонов 127х127
  • Контейнер для временного хранения промежуточных фотооригиналов

Продукция оптического и механического производств

• Изготовление оптических компонентов
  • Призмы
  • Плоскопараллельные детали
  • Клинья
  • Асферические детали
  • Зеркала
  • Светоделители
  • Просветляющие покрытия
  • Моллированные отражатели
  • Изделия, изготовленные методом фотолитографии
  • Вакуумные столики
  • Растровые компоненты
  • Сферические линзы
• Прессформы
• Линейные шаговые двигатели

• HOME
• ABOUT
  • QA company policy
  • Management
    • Sergey AVAKOV
    • Andrey MOSKALENKO
    • Vladimir PLEBANOVICH
    • Natalya SHKURATOVA
    • Gennady SAKUN
    • Konstantin ARODZ
• PRODUCTION
  • Equipment for mask pattern generation and inspection
  • Equipment for wafer pattern generation and inspection
  • Pre-assembly die equipment
  • Assembly Equipment (die/wire bonder)
  • Microscopy & Inspection Station
  • Medical Equipment
  • Optical and mechanical components
• SERVICES
  • Manufacturing of optical components
  • Manufacture of molds
  • Manufacturing by photolithography methods
• NEWS & EVENTS
  • Congratulations on the victory of Planar JSC in the competition of civil defense medical teams
  • Planar JSC on the march of generations on Victory Day
  • EXPOELECTRONICA / ELECTRONTECHEXPO - 2022
  • Holiday greeting
  • SEMICON EUROPA 2021, November 16-19
  • CHIPEXPO - 2021
  • EXPOELECTRONICA / ELECTRONTECHEXPO - 2021
  • Merry Christmas!
  • Happy New Year!
  • Christmas greeting!
  • Planar JSC and КВТЕМ-ОМО JSC have merged
  • Christmas greeting
  • KBTEM-OMO JSC at the XXth International Workshop on the Physics of Semiconductor Devices (India)
  • KBTEM-OMO JSC AT SEMICON EUROPA 2019
  • SEMICON WEST 2019, JULY 9-11
  • Meet us at SEMIEXPO RUSSIA 2019, May 14-15
  • Meet us at ExpoElectronica 2019, April 15-17
• CONTACTS

Equipment for mask pattern generation and inspection

• Precision pattern generators
  • EM-5489 Multichannel laser pattern generator
  • EM-5589 Multichannel solid state laser pattern generator
• Special application pattern generator
  • EM-5209 Multi-purpose laser system for micro patterning
• Photorepeaters
  • EМ-5162 Photorepeater
• Automatic mask inspection
  • EМ-6929 Automatic mask inspection system
  • EM-6729B and EM-6729-0.25 Automatic mask inspection systems
  • EМ-6015M1 System For Ultimate Express Inspection Of Pellicle-Covered Masks
• Laser-based mask defect repair systems
  • EM-5231 Large-field Laser-based Mask Defect Repair System
  • EM-5171 Laser-based Mask Defect Repair System
  • EМ-5131 Laser-based mask defect repair system
• Systems for inspection of work masks
  • EМ-6339 Automated micro size inspection system
  • EМ-6209 Mask pattern coordinates measurement system
• Automatic laser mask blank non-flatness inspection system

Equipment for wafer pattern generation and inspection

• Pattern generator for wafers
  • EM-5489 Multichannel laser pattern generator
  • EM-5589 Multichannel solid state laser pattern generator
• Equipment for wafer projection imaging
  • EМ-5084BM Wafer Stepper
  • EM-5186 Double-side alignment mark placement system
  • EM-5784 Automatic alighment and exposure system
• Tools for proximity exposure and double-side lithography
  • EM-5126 Mask Aligner
  • EM-5106 Mask Aligner
  • EМ-5026АМ Mask Aligner
  • EМ-5026М1 Mask Aligner
  • EM-5096 Mask Aligner
  • EМ-5026B Double-Side Mask Aligner
• Large-area steppers
  • EМ-5434M High density integration PCB stepper
  • EМ-5634 CCD Stepper
• Wafer inspection equipment
  • EM-6022 Automatic spectral ellipsometry system
  • EМ-6419 Wafer flatness inspection system
  • EМ-6429 Automatic patterned wafer micro defect inspection system
  • EМ-6129 Automatic unpatterned wafer defect inspection system
  • EM-6015M1 System for ultimate express inspection of pellicle-covered masks
  • EM-6439 Submicron Size Inspection System

Optical and mechanical components

• Making optical components
  • Photolithographed parts
  • Beam splitters
  • Mirrors
  • Antireflective coating
  • Vacuum chucks
  • Bent reflectors
  • Raster components
  • Plane-parallel parts
  • Wedges
  • Prisms
  • Aspherical components
  • Spherical components
• Molds
• Linear step motors reflectors