Планар (КБТЭМ)
 
УСТАНОВКИ КОНТРОЛЯ МИКРОРАЗМЕРОВ И КООРДИНАТ ТОПОЛОГИИ ФОТОШАБЛОНОВ

Этот класс оборудования предназначен для контроля критических размеров и координат топологических элементов, расположенных на фотошаблонах.

Установки предназначены для работы в чистых помещениях фотошаблонного производства.
Применение данного класса оборудования позволяет дать однозначную оценку пригодности комплекта фотошаблонов для производства микросхем.

 

Для получения более подробной информации по модельному ряду установок контроля микроразмеров и координат топологии фотошаблонов свяжитесь с нами:

Отдел маркетинга

Телефон: +375 17 223 71 28,
+375 17 226 09 82
E-mail: Этот адрес e-mail защищен от спам-ботов. Чтобы увидеть его, у Вас должен быть включен Java-Script